amik, logam, material elektronik, material geologi, organik, dan polimer. Material ini dapat berupa serbuk, kristal tunggal, film tipis multilapis, kertas, fiber, dan material lainnya. Difraktometer sinar-X dibedakan menjadi dua kelas, yaitu single-crystal dan powder. Difraktometer single-crystal sering kali digunakan untuk menentukan struktur molekular dari material baru, sedangkan difraktometer powder digunakan untuk analisis kuantitatif dan identifikasi suatu material termasuk identifikasi tekstur dan kandungan material [2]. Radiasi elektromagnetik sinar-X memiliki panjang gelombang 10-10 m. Untuk melakukan analisis kuantitatif dan identifikasi material, difraksi sinar-X bekerja dengan cara menembak suatu logam dengan elektron berenergi tinggi [1].
Persamaan Bragg pada Difraksi Sinar-X
Difraksi sinar-X mengikuti persamaan Bragg yang ditunjukkan pada persamaan 1. Dimana n adalah orde pantulan (n ϵ {1,2,3 . . .}), λ adalah panjang gelombang, d adalah jarak antara bidang kisi, dan θ adalah sudut antara bidang belokan cahaya dan bidang kisi yang dikenal sebagai sudut Bragg. Hukum Bragg ini dapat diilustrasikan pad